06.03.2017
Международная научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017»
13-14 апреля 2017 года в Московском институте электроники и математики (МИЭМ) пройдет международная научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017».
Участники смогут услышать более 150 докладов о применении LabVIEW и технологий NI по следующим направлениям:
- Радиотехника и беспроводные технологии
- Автоматизация, встраиваемые системы, робототехника
- Электроника и микроэлектроника
- Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных
- Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования
- Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов
- Автоматизация научного эксперимента
Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании.
Труды конференции будут опубликованы в виде полных статей и распространены среди участников конференции. Для публикации докладов необходимо очное участие. Сборник трудов получит официальную регистрацию в базе электронных публикаций РИНЦ.