Измерительные источники питания, тестирование полупроводниковых кристаллов, управление испытаниями и др.

• о преимуществах новых измерительных источниках питания (SMU) серии PXI-413x
• о тестировании полупроводников на пластине
• об основных свойствах системы управлении тестированием TestStand
• об интеграции коммутаторов с различными модульными измерительными приборами
• о пользе абстрагирования при разработке систем измерений и испытаний
• о новых программируемых радиосистемах USRP-2945 и USRP-2955