Яндекс.Метрика
06.03.2017

Международная научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017»

13-14 апреля 2017 года в Московском институте электроники и математики (МИЭМ) пройдет международная научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017».

Участники смогут услышать более 150 докладов о применении LabVIEW и технологий NI по следующим направлениям:

  1. Радиотехника и беспроводные технологии
  2. Автоматизация, встраиваемые системы, робототехника
  3. Электроника и микроэлектроника
  4. Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных
  5. Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования
  6. Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов
  7. Автоматизация научного эксперимента

Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании.

Труды конференции будут опубликованы в виде полных статей и распространены среди участников конференции. Для публикации докладов необходимо очное участие. Сборник трудов получит официальную регистрацию в базе электронных публикаций РИНЦ.